POISTETTU: JauheröntgendiffraktioLaajuus (5 op)

Osaamistavoitteet

Opiskelija oppii jauhemaisilla näytteillä tehtävien röntgendiffraktiomittausten perusteet sekä saa käsityksen eri analyysimenetelmistä liittyen kvalitatiiviseen, kvantitatiiviseen ja kidekokoanalyysiin. Hän saa hyvän käsityksen eri mittausgeometrioiden laitekonstruktioista ja laitteiston komponenttien toimivuuksista. Opintojakso kehittää seuraavia geneerisiä taitoja: kriittinen ajattelu, oman asiantuntijuuden tunnistaminen ja kehittäminen sekä viestintä.

Sisältö

Röntgensäteily. Kidegeometria. Diffraktion geometria. Diffraktiointensiteetti. Diffraktio reaalisista näytteistä. Mittaukset diffraktometrilla. Diffraktometrin konfiguraatio. Kvantitatiivinen analyysi. Viivaprofiilianalyysi. Muita menetelmiä.

Oppimateriaalit

Luentomateriaali. Cullity & Stock: Elements of x-ray diffraction, Prentice-Hall, 2001.

Lisätiedot

Kurssi järjestetään vain joka toinen lukuvuosi, seuraavan kerran keväällä 2025. Tämä opintojakso on tarkoitettu seuraaville opiskelijaryhmille: • Teknillisen fysiikan tutkinto-opiskelijat (diplomi-insinööri) • Sovelletun fysiikan tutkinto-opiskelijat (filosofian maisteri)

Toteutustavat

Luentoja 30 h, laskuharjoituksia 10 h

Suoritustavat

Kirjallinen kuulustelu, projektityö (essee) Arvosteluperusteet: 0-5